Opis: WKiŁ 1984 str. 218, stan bdb-(podniszczona lekko okładka) ISBN 83-206-0394-3 W książce przedstawiono, ujęte w sposób praktyczny, zagadnienia związane z niezawodnością elementów elektronicznych. Podjęto próbę odpowiedzi na pytania: co inżynier elektronik powinien wiedzieć o niezawodności, jak prowadzi się badania jakości i niezawodności elementów elektronicznych oraz jak optymalizować wymagania jakościowe dla elementów elektronicznych. Odbiorcy książki: inżynierowie i technicy elektronicy zajmujący się projektowaniem i konstrukcją sprzętu, badaniami niezawodności Przedmowa — przeznaczenie i układ opracowania Wykaz ważniejszych symboli i oznaczeń 1. Problemy niezawodności w praktyce inżynierskiej 1.1. Wskaźniki charakteryzujące niezawodność 1.2. Rozkłady stosowane do opisu trwałości elementów elektronicznych 1.2,1. Rozkład wykładniczy 1 2.2, Rozkład Weibulla 1.2.3. Rozkład logarytmo-normalny 1.2.4. Uogólniony rozkład gamma 1.2.5. Zastosowanie rozkładów trwałości 1.2.6. Zasady wnioskowania o rozkładzie trwałości 1 2.7. Rozkłady opisujące trwałość krajowych elementów elektronicznych 1.3. [Metody szacowania wskaźników niezawodności 1.4. Źródła informacji o wskaźnikach niezawodności 1.5. Porównanie liczbowych wartości wskaźników niezawodności 1.6. Metody oceny stabilności elementów elektronicznych 1.6.1. Metody graficzne 1.6.2. Liczbowe metody oceny stabilności 1. 7 Testy selekcyjne — klasyfikacja jakościowa 1 8. Analiza uszkodzeń — fizyka niezawodności 1.8.1. Teoretyczne modele procesu uszkodzeń 1.8.2. Metodyka prowadzenia analizy uszkodzeń 1.8.3. Organizacja prac nad analizą uszkodzeń 1 8.4. Wyniki i wnioski z analizy uszkodzeń 2. Organizacja badań jakości i niezawodności elementów elektronicznych 2.1. Laboratoryjne badania jakości 2.1.1. . Badania laboratoryjne na gotowych wyrobach 2 1 2 Badania podczas procesu technologicznego 2.1.3. Badania jakości na etapie technicznego przygotowania produkcji 2.2. Laboratoryjne badania niezawodności 2.3. Eksploatacyjne badania niezawodności 3. Prognozowanie eksploatacyjnej niezawodności elementów elektronicznych 3.1. Wprowadzenie 3.2. Półprzewodnikowe elementy dyskretne 3.2.1. Zależności ogólne 3.2:2. Diody ogólnego zastosowania 3.2.3. Stabilistory 3.2.4. Diody pojemnościowe 3.2.5. Tranzystory 3.2.6. Elementy optoelektroniczne 3. 2.7. Zasady korzystania z modelu prognozowania niezawodności dla elementów dyskretnych 3.2.8. Zasady wyznaczania współczynników obciążenia elektrycznego i temperaturowego 3. 2 9. Przykłady prognozowania niezawodności eksploatacyjnej dla elementów dyskretnych 3.3. Mikroukłady scalone 3.3.1. Informacje wstępne . 3.3. Modele prognozowania niezawodności wg Mil Hdbk 2.17C 3.3.2.1. Układy cyfrowe małej i średniej skali integracji, bipolarne i MOS 3.3.2.2. Układy analogowe, bipolarne i MOS 3.3.1 2.3. Układy cyfrowe dużej skali integracji 3.3.1 2.4. Pamięci półprzewodnikowe, bipolarne i MOS 3.3.3. Modele prognozowania niezawodności wykorzystujące wyniki badań laboratoryjnych 3.3.3.1. Zależności ogólne 3.3.3.;2. Układy cyfrowe małej i średniej skali integracji 3.3.3.3. Układy analogowe 3.3.4. Przykłady prognozowania niezawodności dla układów scalonych 3.4 Układy hybrydowe 3.5. Termistory 3.6. Rezystory 3.6 1 Podstawowe wyrażenia dla prognozowania eksploatacyjnej niezawodności rezystorów 3 6 2 Rezystory warstwowe węglowe 36 .3. Rezystory warstwowe metalowe 3.6.4. Rezystory drutowe 3.6.5. Rezystory zmienne. Potencjometry 3.6.8. Przykłady prognozowania niezawodności eksploatacyjnej elementów rezystywnych 3.7. Kondensatory 3.7.1. Ogólna zasada prognozowania niezawodności eksploatacyjnej 3.7.2. Kondensatory ceramiczne stałe 3.7.3. Trymery ceramiczne 3.7.4. Kondensatory foliowe z dielektrykiem syntetycznym (tworzywwe) 3.7.5. Kondensatory elektrolityczne 3.7.6. Przykłady prognozowania eksploatacyjnej niezawodności kondensatorów 3.8. Uproszczony model prognozowania niezawodności 3.9. Wyniki eksperymentalnej nietylkodlamoli weryfikacji metod prognozowania niezawodności 4. Problemy optymalizacji wymagań jakościowych dla elementów elektronicznych 4.1. Wprowadzenie 4. 2. Cechy jakościowe przyrządów półprzewodnikowych — wybór parametrów podlegających optymalizacji 4.3. Optymalizacja wymagań niezawodnościowych 4.4. Możliwości praktycznego zastosowania rachunku optymalizacyjnego 4.5. Wnioski 5. Zalecenia aplikacyjne 5.1. Zasady ogólne 5.2. Szkic szczegółowych zaleceń aplikacyjnych 5.3. (Niezawodność w umowach kooperacyjnych 6. Ważniejsze dokumenty normalizacyjne z zakresu niezawodności 7. Słownik terminów z zakresu niezawodności elementów elektronicznych i ich odpowiedników w językach: angielskim, francuskim, niemieckim, rosyjskim Literatura Wykaz tablic
|
randki |
CyberCiekawostki |
darmowe aliasy |
darmowe forum |
promocje |
opinie, testy, oceny
darmowa toplsta | reklama internetowa
darmowa toplsta | reklama internetowa