Wybrane układy MOS-LSI Zastosowania pomiary -

Produkt: Wybrane układy MOSLSI Zastosowania pomiary
Producent:
Kategoria: Elektryka, Elektronika

Sklep: antykwariatmole.abc24.pl

Cena brutto: 12,00 zł

Opis: Zbigniew Cwalina Bogusław Jackiewicz Jerzy Kern Jan Pieńkos Witold Piestrzyński Adam Pluta Janusz Rezler Andrzej Sadzikowski Włodzimierz Sasal

WNT 1983, str. 256, stan db +(podniszczona lekko okładka)

ISBN 83-206-0356-0

W książce opisano konstrukcję, właściwości i najważniejsze zastosowania podstawowych rodzajów układów MOS-LSI. takich jak: pamięci, mikroprocesory i układy kalkulatorowe, przy czym najwięcej miejsca;
poświęcono tym typom układów, które są lub w najbliższych latach Będą produkowane w kraju. Omówiono
również metody i urządzenia do projektowania, uruchamiania i diagnostyki systemów, budowanych z tych
układów.
Książka jest przeznaczona dla inżynierów elektroników.

Wstęp
1. Technologia wytwarzania układów LSł
1.1. Charakterystyka ogólna / 13
1.2. Charakterystyka bazowych technologii MOS 15
1.3. Nowe technologie MOS 7 16
1.4. Wytwarzanie i kontrola układów MOS-LSI / 17
Wykaz literatury 20
2, Pamięci
2.1. Ogólna charakterystyka pamięci ,'21
2.1.1. Rodzaje pamięci. Podstawowe parametry / 21
2.1.2. Stan techniki i perspektywy rozwojowe / 24 ,
2.2. Rejestry przesuwające / 27
2.2.1. Wprowadzenie / 27
2.2.2. Układy współczynnikowe i bezwspółczynnikowe rejestrów przesuwających
.2.2.3. Statyczne rejestry przesuwające / 30
2.2.4. Dynamiczne rejestry przesuwające /- 32
2.2.5. Multipleksowa organizacja rejestru / 38
2.2.6. Porównanie własności rejestrów MOS-LSI / 39
2.2.7. Charakterystyki krajowych rejestrów MOS-LSI ' 40.
2.2.8. Zastosowania rejestrów przesuwających / 47
2.3. Pamięci RAM / 56
2.3.1. Ogólna charakterystyka pamięci RAM / 56
2.3.2. Charakterystyki wybranych typów pamięci / 58
2.4. Pamięci stale / 67
2.4.1. Klasyfikacja pamięci stałych. Podstawowe parametry / 67
2.4.2. Budowa i zasada działania pamięci stałych / 68
2.4.3. Charakterystyki wybranych pamięci stałych 77
2.4.4. Zastosowania pamięci stałych 81
Wykaz literatury ' 94
Układy kalkulatorowe
3.1. Wstęp / 95
3.2. Konstrukcja kalkulatora 95
3.3. Charakterystyki wybranych układów kalkulatorowych / 99
3.4. Zastosowanie układów kalkulatorowych w urządzeniach przeliczających 106
3.4.1. Podstawowe bloki funkcjonalne kalkulatorowych układów przetwarzania danych 109
3.4.2. Przykłady kalkulatorowych układów przetwarzania danych 119
Wykaz literatury / 124
4. Układy mikroprocesorowe
4.1. Charakterystyka ogólna. Klasyfikacja 125
4.2. Przegląd rozwiązań mikroprocesorów 128
4.2.1. Mikroprocesory 4-bitowe 128
4.2.2. Mikroprocesory 8-bitowe, przeznaczone do systemów wieloukładowych ; 130
4.2.3. Mikrokomputery 8-bitowe - jednoukładowe / 145
4.2.4. Mikroprocesory 16-bitowe 155
4.2.5. Mikroprocesory specjalizowane 162
4.3. Dziedziny zastosowań mikroprocesorów 165
Wykaz literatury 168
5. Metody i urządzenia do projektowania, uruchamianiai diagnostyki systemów złożonych z układów MOS-LSI
5.1. Metody diagnostyki systemów mikroprocesorowych / 169
5.1.1. Właściwości systemów złożonych z układów MOS-LSI / 169
5.1.2. Problemy związane z uruchomianiem i diagnostyką systemów 169
5.1.3. Metody analizy systemów mikroprocesorowych 171
5.2. Analizatory stanów logicznych 181
5.2.1. Zasada działania analizatorów / 181
5.2.2. Budowa i właściwości analizatora stanów logicznych systemów mikroprocesorwych Hewlett-Packard HP 1611A /
5.3. Systemy projektowo - uruchomieniowe / 190
5.3.1. Przezpaczenie / 190
5.3.2. Struktura systemu / 191
5.3.3. Części składowe / 192
5.3.4. Oprogramowanie systemowe / 197
5.3.5. Kierunki rozwoju systemów projektowo-uruchomieniowych.
5.4. Programatory pamięci PROM 209
5.4.1. Rodzaje programatorów 209.
5.4.2. Programatory pamięci bipolarnych / 209
5.4.3. Programatory pamięci N-MOS / 214
Wykaz literatury / 228
6. Sprawdzanie układów LSI
6.1. Wstęp / 229
6.1.1. Rodzaje układów / 229
6.1.2. Rodzaje badań / 229
6.2. Sprawdzanie pamięci / 230
6.2.1. Rodzaje pamięci / 230
6.2.2. Typowe uszkodzenia 231
6.2.3. Rodzaje testów 231
6.2.4. Testery układów pamięci / 238
6.3. Sprawdzanie mikroprocesorów 239
6.3.1. Specyfika sprawdzania 239
6.3.2. Parametry mikroprocesorów / 240
6.3.3. Badanie u producenta / 242
6.3.4. Metody sprawdzania / 243
6.3.5. Konstrukcja testerów / 245
6.3.6. Zakresy zastosowań testerów / 255
Wykaz literatury / 256

< porzedni produkt | powrót do strony podglądu produktów | nastepny produkt >

ZAŁÓŻ SWÓJ WŁASNY SKLEP INTERNETOWY !!!
abc24.pl - proste, tanie i niezawodne rozwiązanie e-commerce dla Ciebie ! Testuj za darmo !