Opis: WNT 1981, str. 244, stan db W książce omówiono metody analizy i optymalizacj tolerancji parametrów układów elektronicznych. Są w niej poruszane m.in. następujące zagadnienia: metody analizy wrażliwościowej mało- i wielkoprzyrostowej, analiza statystyczna układów, optymalizacja w sensie wrażliwościowych kryteriów jakości i w sensie najgorszego przypadku zmian parametrów, problemy optymalnego centrowania i strojenia, estymacja i optymalizacja uzysku produkcyjnego itp. Książka jest przeznaczona dla pracowników naukowych oraz inżynierów elektroników zajmujących się projektowaniem układów i systemów elektronicznych. Mogą z niej również korzystać studenci wyższych lat studiów wydziałów elektrycznych i elektroniki.
|